Sodobne tehnike karakterizacije materialov

V okviru SRIP ToP (HOM Sodobne proizvodne tehnologije za materiale /VVV Novi materiali) in Sekcije za keramiko SKD smo 18.4.2019 organizirali delavnico Sodobne tehnike karakterizacije materialov, namenjeno povezovanju industrije z raziskovalnimi organizacijami na raziskovalno-razvojnih področjih. Na delavnici je sodelovalo 47 udeležencev iz industrije in raziskovalnih institucij, ki delujejo na področjih vertikalne verige vrednosti Novi materiali in horizontalne mreže Sodobne proizvodne tehnologije.

Na srečanju smo industrijskim partnerjem predstavili nabor pomembnih tehnik karakterizacije materialov, ki jih ponujamo različne javne raziskovalne organizacije v Sloveniji. To so:
• Rentgenska analiza (XRD)
• Ramanska spektroskopija in FTIR
• Rentgenska fotoelektronska spektroskopija (XPS) in masna spektrometrija površin (SIMS)
• Vrstična elektronska mikroskopija (SEM) in Sistem s fokusiranim ionskim sklopom (FIB)
• Presevna elektronska mikroskopija (TEM)
• Termična analiza (TG, DTA, DSC, MS)
• Električna karakterizacija
• Magnetne meritve

Predavatelji so podrobneje predstavili značilnosti tehnik, zadnje trende na področju in možnosti merjenja. S posameznimi udeleženci iz industrije smo že vzpostavili stike in smo v dogovarjanju o različnih možnostih raziskovalno-razvojnega sodelovanja, kar pa bomo dorekli na prihodnjih sestankih.
Udeleženci so izkazali pobudo za organizacijo naslednje delavnice na temo poglobljene strukturne karakterizacije materialov, ki bo predvidoma v jeseni 2019.
Pripravili bomo katalog primerov dobrih praks in seznam storitev, ki jih posamezni odseki IJS na področju materialov lahko nudijo partnerjem v okviru SRIP ToP.